Анализ новых материалов - 0171

Он-лайн библиотека - Анализ новых материалов

НАВИГАЦИЯ

101	102	103	104	105	106	107	108	109	110	111	112	113	114	115
116	117	118	119	120	121	122	123	124	125	126	127	128	129	130
131	132	133	134	135	136	137	138	139	140	141	142	143	144	145
146	147	148	149	150	151	152	153	154	155	156	157	158	159	160
161	162	163	164	165	166	167	168	169	170	171	172	173	174	175
176	177	178	179	180	181	182	183	184	185	186	187	188	189	190
191	192	193	194	195	196	197	198	199	200

Страницы 1..100

Страницы 101..200

Страницы 201..221

Применение нерегистрирующего микрофотометра. Микрофотометр устанавливают так, чтобы спектр фокусировался на щель. Полное преломление получается в том случае, когда пучок света падает на прозрачную пластинку. Измеряют пик пропускания отдельных линий и пересчитывают показания в соответствующую логарифмическую функцию. При этом для длин волн более 2700 А используют формулу Зайделя для плотности почернения:

а для длин волн менее 2700 А применяют Р-функции:

где d0 — полное преломление (чистое стекло), ad — максимальное преломление для данной линии (см. примечание 2).

Строят калибровочные графики в координатах разность преобразованных плотностей линий элементов и линии внутреннего эталона в спектре эталона — логарифм концентрации (см. примечание 3).

Для определения содержания того или иного элемента в пробе вычисляют разности преобразованных плотностей и, нанося их на калибровочный график, находят концентрацию.

Использование однолучевого микрофотометр а. Настраивают микрофотометр так, чтобы спектр фокусировался на щель, а пропускание измеряемых линий превышало 60.%.

Измеряют разность между высотой пика (на микрофотометре) элемента и уровнем фона, а также пика внутреннего эталона и фона. Строят калибровочный график в координатах отношение максимальных величин пропусканий — концентрация элемента.

Таблица 6. Типичные стандартные отклонения

Элементы	Содержание. %•№	Стандартное отклонение. % Ы01	Число опытов	Элементы	Содержание, %-10-s	Стандартное отклонение, % Ы04	Число опытов
Al	60	4,3	35	Si	60	4,2	20
по	5,0	35	125	5,5	20
Fe	700	34	15	Ti	50	2,1	35
1500	73	15	100	3,9	35

Примечания. 1. Чтобы избежать загрязнения пробы посторонними компонентами сплава, полировку или зачистку проводят наждачной бумагой, предназначенной только для анализа данного сплава. Эти же меры применяют при подготовке противоэлектродов. При определении железа образец 30 мин выдерживают в горячей соляной кислоте (1 : 1).

2. Можно использовать таблицы зависимостей плотностей Зайделя и функций P от преломления гальванометра.

3. Применение бумаги с полулогарифмической сеткой дает возможность избежать необходимости рассчитывать логарнфм. ы концентрации.