Анализ новых материалов - 0170

Он-лайн библиотека - Анализ новых материалов

НАВИГАЦИЯ

101	102	103	104	105	106	107	108	109	110	111	112	113	114	115
116	117	118	119	120	121	122	123	124	125	126	127	128	129	130
131	132	133	134	135	136	137	138	139	140	141	142	143	144	145
146	147	148	149	150	151	152	153	154	155	156	157	158	159	160
161	162	163	164	165	166	167	168	169	170	171	172	173	174	175
176	177	178	179	180	181	182	183	184	185	186	187	188	189	190
191	192	193	194	195	196	197	198	199	200

Страницы 1..100

Страницы 101..200

Страницы 201..221

■Фильтр........... — — Четырл-хступгнча-

'1 ый, плотность по ступ. ням 0; 0.2: 0,1 и 0,6

Расстояние от источника до щели, си........... 25 30 3d

Продолжительность выдержки, сек............ 120 120 SO

Оценка спектров. Сравнивают линии (см. табл. 5} в спектрах пробы и эталона и оценивают концентрацию определяемого элемента.

Таблица 5. Определение примесей в цирконии спектрографическим методом

Злеьс-нты	Условия возбуждения (см. стр. 169)	Аналитические линии, А	Контрольные линии, А	Линии мешающих элементов, А	Чувствительность определения, 1-101%
AI	3	3092,7	3092,2	3092,1 (Mo)	10
10
V	3	3093,1	3093,3	3092,7 (Al)	5
W	1	2397,1	2397,2	50
Hf	2	2641,4	2641,8	30 ■
Fe	3	2585,9	2586,9	100
■Cd	1	2288,0	2288,6	0,1
Со	1	2411,6	2411,9	5
Si	3	2516,1	2517,5	10
-Mg	3	2795,5	2795,1
2796,4	<5
Mn	3	2794,8	2795,1 2796,4	5
■Си	3	3247,5	3244,0	3247,5 (Nb)	<ю
Mo	з	3170,3	3168,8	10
IMi	3	3050,8	3052,8	20
Nb	3	3094,2	3093,3	10
Sn	3	3034,1	3033,2	20
Pb	3	2833,1	2829,8	20
Cr	3	2677,2	2687,8	10

Визуальное сравнение с использованием компаратора спектра проводят в тех случаях, когда содержание элемента гораздо ниже установленного стандартом. Если же содержание элемента приближается к пределу, установленному стандартом, для измерения пользуются микрофотометром. Для определения элементов, линии которых накладываются на достаточно плотные фоновые линии, вводят поправки на фон (например, при определении гафния) н применяют однолучевой микрофотометр, а для определения элементов, для которых не требуется введение поправки на фон, например, алюминия, железа, кремния и титана, используют нерегистрирующий микрофотометр.

При отсутствии однолучевого микрофотометра удовлетворительные результаты могут быть получены на нерегистрирующем микрофотометре совмещением спектров, т. е. взаимным наложением кривых пропускания элемента и эталона.